A peremfigyeléses vizsgálat csökkentheti a tesztelés költségeit

Az elmúlt években a cégek különösen keresték a lehetőségeket, hogy vállalkozásuk minden területén csökkentsék kiadásaikat. A peremfigyeléses (angolul: Boundary-Scan) vizsgálati módszer egy olyan technológia, amely segíthet csökkenteni a panel tesztelésekor felmerülő (rejtett) költségeket a gyártás során.
Köztudott, hogy a korai gyártási hibák (rövidzár, szakadás) felmerülése esetén ezek javítása jelenti a tesztelők legidőigényesebb feladatát. Speciálisan erre a célra fejlesztették ki a strukturális tesztelési módszert, mely gyorsan és pontosan megtalálja a különböző gyártási hibákat. A strukturális tesztelés előnyei: a) ismert hibalefedettség; b) közvetlen hibaelemzés akár alkatrészláb szinten; c) lehetőség automatikus tesztgenerálásra; d) a funkcionális tesztéhez képest alacsonyabb tesztelési költségek.
Kis mennyiségű gyártáshoz, ill. kisebb cégeknek a hagyományos strukturális tesztelőeszközökkel (In-Circuit Tester, Manufacturing Defects Analyzer, Flying Probe Tester) történő strukturális tesztelés a beruházás nagysága miatt nem mindig elérhető. Csupán nagyobb cégek engedhetik meg maguknak ezeknek a drágább, hagyományos tesztelőknek és specifikus berendezéseknek a megvásárlását.
Ennek ellenére sok kisebb cég is alkalmazza ezt a hagyományos tesztelési megoldást. Az eljárás során először vizuálisan ellenőrzik a panelt, majd néhány manuális próba következik, melyet végül a feszültségszintek ellenőrzése követ. Ezen a lépések után a panelt normálkörnyezetben funkcionális tesztnek vetik alá. Ha a panel a funkcionális teszten nem felel meg, visszakerül hibaelhárításra. A tesztelők ekkor bonyolult berendezésekkel teljes körű méréseket végeznek, melyek célja, hogy alaposan megvizsgálják az egyes funkciókat. A kiderített hibák gyakrabban származnak összeköttetési problémákból, mint rövidzárakból vagy szakadásokból. A panel bonyolultságától függően a hibakeresés akár több órát is igénybe vehet egy-egy panelnél. Végül minden panelt kijavítanak, így azok teljes mértékben működőképesek lesznek ennek a tesztelési és hibakeresési módszernek köszönhetően, azonban a munkaerőbe vetett (rejtett) költségei jelentősek.
Pontosan az ezeknél a paneleknél előforduló összeköttetési problémákat lehet a strukturális tesztelési módszerrel sokkal hatékonyabb és gazdaságosabb módon megoldani. A peremfigyeléses technológiával az ár nem kérdés többé, kihasználható az összes strukturális teszt által nyújtott előny, különösen, ha ezek a tesztelési lehetőségek már adottak a panelen.
Számos panelen használnak a tervezők JTAG-csatlakozót, nem csak tesztelésre, de programozható logikai eszközök (PLD) és FPGA-k programozására is, vagy egy mikroprocesszor hibakeresési logikájának hozzáféréséhez is. Azoknál a paneleknél, amelyeknél ez a helyzet, a peremfigyeléses tesztelésre váltás igen egyszerű, és minimális befektetéssel jár, vagy akár semmibe sem kerül. Idővel aztán, ha magasabb követelményeket támasztunk magunk elé, vagy növekszik a gyártási mennyiségünk, bővíthetjük a peremfigyeléses eszközeink csomagját.

A HT-Eurep Electronic Kft. honlapja