FőoldalKonstruktőrMicrosemi siker a 26 millió eszközórás FPGA megbízhatósági termékteszten
2012. augusztus 21., kedd ::

Microsemi siker a 26 millió eszközórás FPGA megbízhatósági termékteszten

A Microsemi Corporation bejelentette, hogy a nemzeti űrkutatási projektekhez tudományos kutatási, fejlesztési, támogatási szolgáltatásokat nyújtó, független szervezet befejezte a cég kereskedelmi besorolású, Axcelerator sorozatú FPGA eszközeinek megbízhatósági tesztelését. A tesztek több mint négy évig futottak, amely összesen több mint 26 millió eszköz-üzemórát jelent

A Microsemi Axcelerator sorozatú FPGA-i a cég RTAX-S/SL sorozatú, űrkutatási besorolású FPGA-inek kereskedelmi alkalmazásokra specializált változatai, és ugyanolyan CMOS struktúrával rendelkeznek, anyaghasználatuk, gyártástechnológiájuk, méreteik, programozási jellemzőik is közösek. Az RTAX-S/SL sorozatú FPGA-k sugárzásállóak, rendelkeznek sugárzásbiztos flip-flopokkal is.
A tesztelés olyan szigorúan megválasztott körülmények között zajlott, amelyek a hibamechanizmusok kiváló megfigyelhetőségét biztosította, már a tesztelés kezdetétől fogva. A tesztelés kiterjedt a magas hőmérsékletű (HTOL), alacsony hőmérsékletű (LTOL), valamint hőciklus közbeni üzemeltetésre, ill. mérésekre is.
A Microsemi RTAX-S/SL sorozatú, sugárzásálló FPGA-kat nagy megbízhatóságú, nemfelejtő technológiával alakítják ki, amelynél az SRAM-os FPGA-któl eltérően nincs szükség drága, és bonyolult védelmi felépítményre a sugárzás okozta meghibásodások ellen. Az FPGA-k akár 4 millió ekvivalens kapus sűrűséggel, és 840 felhasználói I/O-val is elérhetők, támogatott továbbá a hot-swap is. Az alacsony nyugalmi áramú alkalmazásokhoz kínált RTAX-SL FPGA-knál a nyugalmi áram a standard termékekhez képest csupán fele akkora. Az RTAX-S/SL sorozatú FPGA-k további jellemzői az alábbiak:

  • akár 540 Kibit beágyazott memória, opcionális EDAC védelemmel,
  • teljes dózis: 300 kRad (funkcionális), ill. 200 kRad (parametrikus),
  • SEU immunitás,
  • többféle tokozási változat (CQFP, CCGA, LGA),
  • FPGA screening: E-Flow (Microsemi kiterjesztett), B-Flow (Mil-STD-883B), V-Flow (MIL-PRF-38535 QML Class V).

A Microsemi honlapja

Lambert Miklós

ELEKTRONET szerkesztőbizottság elnöke

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény