- Nagy mérési kapacitás, mely nanométeres szintig teszi lehetővé a méréseket
- Ultramagas nagyítású megfigyelések, akár 28000×-ig
- Újragondolt analizációs funkciók, felhasználófüggetlen automatikus elemzésekkel és összehasonlításokkal
2014. november 10., hétfő
::
ELEKTROnet Online
Egy lézeres mikroszkóp, mely egyértelművé teszi a felületi különbségeket
A Keyence VK sorozata új taggal bővült. Az új termék nagy pontosságú mérést és magas nagyítású megfigyelést tesz lehetővé. A minták közötti lényegi különbségeket batch összehasonlítások és a több mintán végezhető automatikus érdességi paraméterválasztás és mérés emelik ki
Kategória:
Rendszerintegrátor
Címkék:
Tudomány / Alapkutatás
CAD/CAM
Járműelektronika
Rendezvények / Kiállítások
Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény
Elektronet nyomtatott kiadás
Legfrissebb lapszámunk kapható az újságárusoknál, vagy előfizethető honlapunkon, itt!
Elektronet digitális kiadás
Lapszámaink digitálisan is elérhetőek a digitalstand.hu oldalon, hogy kedvenc lapja mindig Önnél legyen!
Legolvasottabb cikkeink
-
Bel Stewart-MagJack csatlakozók
-
Érintésvédelmi műszerek képességei
-
Egyedi és szériamozgatási és -ellenőrzési rendszerek a folyamatok automatizálásához
-
Amerikai tudományos elismerését a Kálmán-szűrő megalkotójának
-
2022-re 4 nm-es gyártástechnológiát céloz meg az Intel
-
Valódi és biztonságos alternatíva a boltokból kivont izzólámpákra
-
Skype: messze több, mint egy VoIP-telefon
-
A Szilícium-völgy válasza a globális válságra
-
A pendrájv sem csodaszer!
-
National Instruments