FőoldalArchívumAz NI moduláris eszközcsaládjának új elemeivel a félvezető tesztelés irányába bővíti a PXI rendszerek képességeit
2009. december 22., kedd ::

Az NI moduláris eszközcsaládjának új elemeivel a félvezető tesztelés irányába bővíti a PXI rendszerek képességeit

A National Instruments bejelentette 10 új PXI modul megjelenését, amelyekkel tovább bővíti a PXI platform szolgáltatásait a félvezető áramkörök kevert jeles tesztelésének területén.A szoftveresen definiálható, új modulkészlet - amelyet az NI LabVIEW grafikus rendszertervező szoftverrel való használatra optimalizáltak - négy nagysebességű digitális I/O (high speed digital I/O, HSDIO) eszközt, két digitális kapcsolót, két továbbfejlesztett RF modult, egy nagypontosságú feszültségforrást (source measure unit SMU) és egy speciális vektor fájl importáló szoftver eszközt tartalmaz. Az új NI PXI Semiconductor Suite számos új tulajdonsággal rendelkezik: 200 MHz-es aszimmetrikus digitális I/O; árammérésnél 10 pA-es felbontás; gyors, többsávos RF mérések; DC/digitális kapcsolás; valamint a WGL (waveform generation language) és az IEEE 1450 szabvány (STIL, standard test interface language) szerint készített fájlok importálásának képessége

A PXI Semiconductor Suite tovább szélesíti az NI PXI platformját a szokásos félvezető eszközök - analóg/digitális átalakítók (ADC), digitáls/analóg átalakítók (DAC), teljesítmény menedzsment áramkörök, vezeték nélküli eszközök áramkörei és mikro elektromechanikus rendszerek áramkörei (MEMS) - tesztelésének területén. Széleskörű, fejlett funkcionalitásának köszönhetően az eszközkészlet nagyobb teljesítményt, nagyobb rugalmasságot és rövidebb fejlesztési időt biztosít, mint a hagyományos műszerezés és az automatikus teszt berendezések (ATE, automatic test equipment), amelyeket gyakran használnak a fenti típusú félvezető eszközök leíró/ellenőrző, validáló és gyártósori tesztelésére.

A HSDIO eszközök közé tartozik a NI PXIe-654x nagysebességű digitális I/O család négy új modulja, amelyek 200 MHz-es órajel mellett 400 Mb/s adatátviteli sebességre képesek. Ez a sebesség lehetővé teszi a mérnökök számára, hogy gyors áramköröket tudjanak tesztelni, valamint gyorsabb egyéni kommunikációs protokollokat is használjanak. A család továbbfejlesztett digitális moduljainak számos új tulajdonsága is van: kétirányú kommunikáció, valósidejű bit-összehasonlítás, dupla adatátviteli sebesség, a különböző I/O vonalakon többféle késleltetés beállításának lehetősége, valamint a digitális I/O tesztelés nagyobb rugalmasságának érdekében az 1,2 - 3,3 V tartományban 22 különböző értékre lehet a feszültségszintet beállítani. Ezek az új digitális egységek tovább bővítik az NI PXI-654x, PXI-655x, PXI-656x sorozat nagysebességű digitális mérési lehetőségeit: mind a 10 új PXI eszköz 200 MHz-ig képes alacsonyszintű aszimmetrikus és differenciális (LVDS) feszültségmérésre.

Az új NI PXI-4132 nagypontosságú SMU modul érzékenysége 10 pA, ami nagyfelbontású árammérést tesz lehetővé. Az egy PXI kártyahelyet elfoglaló modulnak egy négyvezetékes kialakítású, a ±100 V tartományban működő kimenete van. Az SMU egyéb új szolgáltatásokat is nyújt a felhasználóknak: a beépített ütemadó hardveres időzítést tesz lehetővé, nagysebességgel állítható kimeneti jelformákat szolgáltat, valamint - a PXI keret hátsó paneljén keresztül - több PXI-4132 szinkronizálására is képes. A PXI-4132 kiegészíti a már ismert NI PXI-4130 nagyteljesítményű - négy negyedben 40 W kimenetű (±20 V, ±2 A) - SMU modult, amelyek így együtt nagypontosságú és nagyteljesítményű SMU eszközzel erősítik a PXI modulok választékát.

A PXI platform tovább növekszik az új NI PXI-2515 és NI PXIe-2515 digitális kapcsolókkal, amelyek lehetővé teszik precíziós DC mérőeszközöknek a tesztelés alatt álló áramkörhöz csatlakozó HSDIO vonalakra kapcsolását. Az új kapcsoló modulok továbbfejlesztett kapcsolóelemei kiváló csatlakozást biztosítanak, így a jelintegritás nagysebességű, keskeny digitális tüskéknél is megmarad.

A rádiófrekvenciás konfiguráció gyors és determinisztikus változtatására kifejlesztett RF List Mode nevű szolgáltatással az új NI PXIe-5663E és a NI PXIe-5673E 6.6 GHz-es rádiófrekvenciás PXI Express vektor analizátor és vektor jelgenerátor modulok nagyobb mérési sebességet biztosítanak, ami a tesztelés idejének jelentős csökkenéséhez vezet. Az új funkció segítségével a mérnökök előre beállított eszköz-paramétereket tölthetnek le. A tesztszoftver ezeknek a paramétereknek megfelelő RF beállításokkal ciklusban elvégzi a méréseket. Ez különösen hasznos teljesítményerősítők és más RFIC eszközök tesztelésénél, amikor az eszközök tulajdonságait több frekvencián kell verifikálni. Az új lehetőségek segíthetik az RF mérnököket, hogy többsávos RF méréseiket lényegesen gyorsabban végezzék el, mint a hagyományos eszközökkel.

Az olvasók a www.ni.com/semiconductor/suite oldalon többet is megtudhatnak a PXI Semiconductor Suite tulajdonságairól, valamint arról, hogy az Analog Devices Inc. és mások hogyan használják a PXI és a LabVIEW platformokat áramköreik tesztelési költségének csökkentése érdekében.

További információ

Kovács Péter

Az Elektronet magazin főszerkesztője...

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény