A PXI moduláris kialakítása és kompakt mérete az NI LabVIEW szoftverrel együtt használva rugalmas tesztplatformot biztosít, amely kiválóan alkalmas arra, hogy megfeleljen azoknak a kihívásoknak, amelyekkel a félvezető-tervezők és -tesztmérnökök
találkoznak. Napjainkban a vállalatok, ezen belül az ON Semiconductor és az Analog Devices is, úgy tekintenek a PXI-re és a LabVIEW-ra, mint a növekvő minőségi követelményekre és csökkentendő költségekre adott komplett megoldásra mind a karakterizációs, mind a gyártás közbeni tesztelés során. Egyedül a National Instruments több mint 300 PXI terméket biztosít, további 1500 érhető el kb. 70 más gyártótól. Az NI folyamatosan invesztál a PXI-be, hogy újabb tulajdonságokkal lássa el a platformot, és jobban megfeleljen a félvezetőipar igényeinek.
Az új NI PXI Semiconductor Suite 10 új terméket tartalmaz, amelyek kibővítik a PXI és a LabVIEW képességeit a szoftvervezérelt chip-tesztrendszerek terén. A csomag digitális műszerezést tesz lehetővé 200 MHz-ig, árammérést 10 pA-ig, gyorsabb RF-hangolást, nagy sebességű digitális kapcsolást, valamint Waveform Generation Language (WGL) és Standard Test Interface Language (STIL) vektorformátumok közvetlen PXI-be importálásának lehetőségét.
Ezek az eszközök megduplázzák a közös földű órajelek frekvenciáját és két nagyságrenddel növelik az áramérzékenységet a korábbi NI műszerekhez viszonyítva.
A 10 új terméket a PXI Semiconductor Suite-ben egymással szorosan integrált működésre tervezték, továbbá új szolgáltatásokat kínál, többek között az SMU ütemadót és továbbfejlesztett időzítési lehetőségeket a digitális I/O-kezelésben, amelyek jól hasznosíthatók a félvezetőchip-tesztelésben.
Nagy pontosságú DC-műszerezés
A parametrikus mérések kritikusak a félvezető alkatrészek validációjánál és karakterizációjánál, valamint nagyon pontos DC-műszerezést kívánnak az eszközök készenléti és szivárgási áramainak méréséhez. Az új SMU-nak köszönhetően a PXI Semiconductor Suite megfelel ezeknek a követelménynek. Az NI PXI-4132 típusú, nagy pontosságú SMU 10 pA-es felbontású, négyvezetékes árammérési funkciót, továbbá egy ±100 V-os, kívülről védőföldelhető feszültségforrást biztosít egyetlen PXI kártyahelyen. Az SMU számos továbbfejlesztett szolgáltatást kínál, beleértve egy beépített hardveres ütemadót a hardveresen időzített, nagy sebességű jelgeneráláshoz és több 4132-es SMU triggerelésének és szinkronizálásának a lehetőségét a PXI keret hátlapján keresztül. A PXI-4132 kiegészíti az NI PXI-4130 nagy teljesítményű SMU-t, amely négy negyedben 40 W kimenetet (±20 V, ±2 A) kínál, miáltal nagypontosságú és nagy teljesítményű mérési lehetőséget biztosítanak PXI-alapon.
Továbbfejlesztett, nagy sebességű digitális mérések
A digitális műszerezés egy másik fontos eleme bármely félvezető tesztrendszernek, amely segít jellemezni a digitális interfészeket funkcionálisan és parametrikusan, valamint ellenőrizni a chipek működését közös kommunikációs protokollokon keresztül, úgymint az SPI vagy az I2C. Az új csomag számos új terméket tartalmaz fejlett, nagy sebességű digitális tulajdonságokkal. Az NI PXIe-6544 és az NI PXIe-6545 modulok 100 és 200 MHz-es digitális I/O-t adnak a PXI Expresshez, illetve 32 csatornán biztosíthatnak 1,2 és 3,3 V közötti feszültségeket és nagy pontosságú, beépített órajelet kínálnak 1 Hz alatti felbontással. Az NI PXIe-6547 és az NI PXIe-6548 modulok további funkciókat kínálnak: csatornánkénti kétirányú kommunikáció, ciklusonkénti alapon; valósidejű bitösszehasonlítás a fogadott és a várt adatok viszonylatában; dupla adatátviteli sebesség (DDR) 400 Mibit/s-ig; továbbá három késleltetőegység, amelyekkel a mérnökök kismértékben el tudják tolni egymáshoz képest az egyes műszerek digitális I/O jeleit, hogy ezáltal teszteljék a chip időzítéseit.
A PXI Semiconductor Suite szintén tartalmazza az NI első nagy sebességű, digitális jelinzertáló kapcsolóját, így a mérnökök multiplexelhetik nagy pontosságú DC-műszereiket - mint például az új PXI-4132 SMU-k, digitális multiméterek (DMM) vagy tápegységek - egészen 32 digitális I/O vonalig. Egy NI PXI/PXIe-2515 kapcsoló átjáróként szolgál az új PXI Express digitális I/O modulok, vagy a meglévő NI 654x vagy NI 655x digitális eszközök számára, a csatornánkénti árammérésekhez kifogástalan kapcsolódást biztosítva bármelyik digitális vonalhoz.
Számos félvezető-tesztelő alkalmazásban szükséges, hogy az elterjedten használt tervezőrendszerekből digitális szimulációs tesztvektorokat importálhassunk. Az új csomag részeként az NI, együttműködve az elektronikus tervezésautomatizálási (EDA) mintakonvertálás területén vezető National Instruments Alliance Partnerrel, a Test System Strategies Inc. (TSSI) céggel, kidolgozta a TSSI TD-Scan for National Instruments nevű új szoftverterméket, amellyel a mérnökök importálhatják a PXI-be a WGL és STIL vektor-formátumokat. A szoftvert a TSSI biztosítja, és 30 napos próbaverzióban érhető el az NI nagy sebességű digitális I/O PXI hardverével.
Gyorsabb RF-mérések
Nagy sebességű RF-komponensek tesztelése időigényes lehet, ha figyelembe vesszük, hogy a követelmények gyakran több frekvencia vizsgálatát írják elő a chipek teljesítményének teljes jellemzéséhez. Az új NI PXIe-5663E 6,6 GHz-es vektoranalizátor (vector signal analyzer - VSA) és az NI PXIe-5673E 6,6 GHz-es vektorjel-generátor (vector signal generator - VSG) hardveres hangolást biztosítanak az RF List Mode használatával, hogy a többsávos és RF-méréseket gyorsabbá tegyék. Determinisztikus frekvenciahangolással és teljesítménybeállítással ezek a modulok egyedülállóan alkalmasak vezeték nélküli és kevert jelű IC-k tesztelésére, mint például a teljesítményerősítők és az adóvevők.
Szoftvervezérelt félvezetőchip tesztelés
A LabVIEW-t használó szoftvervezérelt műszerezés a félvezető-tesztelésben nagy előnyt jelent a mérnököknek a gyorsan konfigurálható mérések és a kiépíthető, nagy teljesítményű automatizált tesztrendszerek révén. A PXI moduláris hardvere segíti a mérnököket a legújabb PC-s technológiák kihasználásában, mint a többmagos processzorok és a PCI Express, hogy tovább csökkentsék a tesztelés idejét. A PXI Semiconductor Suite felhasználása tovább bővíti a PXI és a LabVIEW lehetőségeit egy robusztus platform kialakítására, amely számos félvezető eszköz tesztelésére szolgálhat, többek között analóg/digitális átalakítók (ADC), digitális/analóg átalakítók (DAC), teljesítménymenedzsment-áramkörök (PMIC), vezeték nélküli eszközök áramkörei (RFIC) és mikro-elektromechanikus rendszerek áramkörei (MEMS) tesztelésére.
