FőoldalGyártósorÚj megoldás ionos maradványanyagok nagy érzékenységű mérésére
2016. június 30., csütörtök ::

Új megoldás ionos maradványanyagok nagy érzékenységű mérésére

A ZESTRON bővítette analitikai kínálatát egy ionos kromatográfiás méréstechnikai megoldás bemutatásával. A nagyérzékenységű analitikai módszer részletes jelentést készít a nyomtatott áramköri kártyákon megtalálható anionokról, kationokról és gyenge szerves savakról az IPC-TM-650 specifikációk alapján. E mérések útján a bromidok és kloridok jelenléte, illetve mennyisége meghatározható

Az egyszerűbb méréstechnikai megoldásoknál (pl. szennyezettségmérők vagy omegaméterek) csupán a teljes, nátrium-klorid ekvivalens ionos tartalom határozható meg, ezzel szemben az ionos kromatográfia kvantitatív és kvalitatív mérési megoldást kínált egyedi ionokhoz, így a nyomtatott elektronikai áramkörökre jellemző potenciális hibaforrások, mint például az áramszivárgás, elektrokémiai migráció vagy rézfelületek korróziója vizsgálható.

Az ionos kromatográfia alkalmas a forrasztás utáni tisztaság igazolására és a tisztítás utáni felületminőség igazolására is bevonatkészítés vagy mikrohuzalkötés előtt.

A Zestron honlapja

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény