Vegyen Ön is részt a National Instruments Automatizált Teszt Konferencián, hiszen ez a legmegfelelőbb hely arra, hogy első kézből, az iparág jeles képviselőitől ismerje meg a legújabb ipari trendeket!
Időpont: 2011. április 13. 9 - 17 óráig
Helyszín: Holiday Inn Budapest-Budaörs, Agip u. 2.
Hogyan tovább a gazdasági válság után?
A gazdasági kilátások javulása és a beruházások beindulása számos új feladattal és tesztelési kihívással szembesíti a mérnököket és a kutatókat olyan szakterületen, mint például a villamos- és gépészmérnöki tervezés, az audio/video minőségbiztosítás, illetve a rádiófrekvenciás kommunikáció. A termékfejlesztés és a gyártási folyamat kritikus eleme egy hatékony és rugalmas tesztrendszer felépítése, mert ez javítja a termékek minőségét és megbízhatóságát, valamint kisebb meghibásodási arányt biztosít.
Versenyképesség vagy csődeljárás?
Naprakésznek lenni a legújabb tesztelési és méréstechnikai trendekkel: ez ma az egyik legnagyobb kihívás a mérnökök számára. Meglehetősen nehéz a gyártás és tervezés technológiai változásaival lépést tartani; és talán még nehezebb élen járni az új tesztelési technikákkal, valamint a tesztelési folyamatok fejlesztését segítő technológiákkal.
Olvasson el sikeres felhasználói megoldásokat a tesztelés területéről!
Elektronikus alkatrészek karakterizációja LabVIEW segítségével a biztonsági hibák megelőzéséhez
LabVIEW FPGA és NI Vision használata tintasugaras fúvóka teszteléséhez beépített gyártógépekben
A világ legnagyobb gyártó cégei már sikeresen csökkentették termékeik piaci bevezetésének idejét az NI megoldások felhasználásával. Tartson Ön is Velünk!
