FőoldalGyártósorForgófejes digitális mikroszkóp
2011. június 10., péntek ::

Forgófejes digitális mikroszkóp

Új optikai vizsgálati módszereket tesz lehetővé a Hirox KH-7700 forgófejes digitális mikroszkópja. A berendezés egyaránt alkalmas gyártósori sorozatvizsgálatokra, valamint konstrukciós döntéseket és technológiai beállításokat segítő, alapkutatás-jellegű hibaanalitikára

Az elérhető nagyítás 7000-szeres, nagy mélységélességben. Alapvető újdonság a forgó tükörfej. A vizsgált objektum folyamatosan körüljárható, és közben a fej 25 ... 55°-os szögben a vízszintes síkhoz képest is dönthető. A forgó és dönthető tükörfej a képet az optikai tengelyben elhelyezett CCD-chiphez továbbítja.

1. ábra. A forgó tükörfej vázlata és egy kocka teljes körüljárás során rögzített képei 1. ábra. A forgó tükörfej vázlata és egy kocka teljes körüljárás során rögzített képei
Az 1. ábrán látható a forgó fej vázlata és példaként egy kocka megfigyelése, amelynek különböző helyzetekből egyszerre öt oldalát láthatjuk. A berendezés dinamikus (mozgás közbeni) megfigyelésekre és egy-egy pozícióban rögzített képek megjelenítésére egyaránt alkalmas. A nagy mélységélességű 3D-megjelenítés különösen előnyös az elektronikai szerelési eljárások problémáinak tanulmányozására.
2. ábra. Forraszpaszta-felvitelről készített nagy mélységélességű kép 2. ábra. Forraszpaszta-felvitelről készített nagy mélységélességű kép
A 2. ábrán egy forraszpaszta-felvitel legkisebb részlete is jól elemezhető. A rögzített képekre tetszőleges térbeli helyzetben virtuális metszősíkokat illeszthetünk. A berendezés elkészíti a metszetek rajzolatát, és beméretezi azokat.

3. ábra. Bumpokra illesztett metszősík és a digitális képalkotással készített, méretezett metszeti rajz 3. ábra. Bumpokra illesztett metszősík és a digitális képalkotással készített, méretezett metszeti rajz
4. ábra. Beforrasztott IC-kivezetésekre illesztett metszősík és digitális képe 4. ábra. Beforrasztott IC-kivezetésekre illesztett metszősík és digitális képe

A 3. ábrán bumpok, a 4. ábrán sirályszárny-IC kivezetések beforrasztásának metszete tanulmányozható.

A Grimas honlapja

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény