mérés
A Keyence VK sorozata új taggal bővült. Az új termék nagy pontosságú mérést és magas nagyítású megfigyelést tesz lehetővé. A minták közötti lényegi különbségeket batch összehasonlítások és a több mintán végezhető automatikus érdességi paraméterválasztás és mérés emelik ki
Vegyen részt Ön is az év legrangosabb NI rendezvényén, az NIDays konferencián! A rendezvényen nem csupán a leginnovatívabb beágyazott vezérlő- és mérőrendszerek elkészítéséhez szükséges legújabb technológiákat ismerheti meg, hanem lehetősége nyílik arra is, hogy megbeszélje futó projektjeit és alkalmazásait tapasztalt fejlesztőkkel és rendszerintegrátorokkal
„Az NI hardver- és szoftverplatformját használó, FPGA-alapú szimulációval el tudtuk érni az elektromos motorvezérlő egységének (ECU) ellenőrzéséhez szükséges szimulációs sebességet és modellhűséget. Ez a tesztelés huszad annyi időt igényelt, mint egy egyenértékű dinamométeres vizsgálat." – Tomohiro Morita, FUJI Heavy Industries, Ltd
A VR-3000 sorozat mindössze 4 másodperc alatt 800 000 háromdimenziós alakadat pontot észlel. Nincs szükség a pozíció beállítására és paraméterek kiválasztására, így a VR-3000 sorozat használata rendkívül egyszerű
Az NI Hungary Kft. 2013 januárjában közel kétmilliárd forintos uniós támogatást nyert az Új Széchenyi Terv keretében, az „Innovációs és technológiai parkok, valamint fejlesztési központok támogatása" című pályázati kiíráson. Ez az összeg 50%-ban finanszírozta az NI Science Park mintegy négymilliárd forintos beruházását, mellyel a vállalatcsoport újabb tanúbizonyságát tette a magyar innováció iránti elkötelezettségének
A GE kutatói a nanotechnológiai segítségével, vezeték nélküli szenzorokkal vizsgálják az emberi szervezet reakcióit
A híres svájci sajt és csokoládé az ország egyik jelképének is tekinthető tehenek tejéből készül. A tejtermelő tehenészeteknek azonban van egy másik terméke is – a metán. Az ABB repülőgépre szerelt elemzőkészülékének segítségével a tudósok pontosan tudják mérni az üvegházgázok körébe tartozó metán kibocsátási szintjét
Az útmutató segítségével elsajátíthatja többek között a felületek érdességével, a műszaki kifejezésekkel, az értékelési módszerekkel és az ISO 25178 szerinti felületmintázat-paraméterekkel kapcsolatos alapvető információkat
Idén augusztus 4-e és 7-e között rendezte meg a National Instruments éves nagy konferenciáját és újtermék-bemutatóját. A huszadik, jubileumi rendezvényen jelentette be a cég a megújult – egyébként tizedik születésnapját ünneplő – ComapactRIO-t, a szoftveresen tervezett műszerek új hullámát, az új, robosztus CompactDAQ vezérlőt és a LabVIEW 2014-et
– Agilent-megoldásokkal. A legtöbb modern spektrumanalizátornál legalább egy mód biztosan adott a jel spektrumának időtartományban kapuzott mérésére. Az időtartománybeli kapuzott spektrumanalízis célja, hogy a periodikus jel spektrumát egy adott időszeletben vizsgáljuk. Egy tipikus gyakorlati példa, amikor egy impulzusjelet szeretnénk megmérni az impulzus aktív állapotában úgy, hogy az átmeneti és/vagy inaktív állapotokat figyelmen kívül hagyjuk
Rendezvények / Kiállítások
Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény
Elektronet nyomtatott kiadás
Legfrissebb lapszámunk kapható az újságárusoknál, vagy előfizethető honlapunkon, itt!
Legolvasottabb cikkeink
-
Bel Stewart-MagJack csatlakozók
-
Érintésvédelmi műszerek képességei
-
Egyedi és szériamozgatási és -ellenőrzési rendszerek a folyamatok automatizálásához
-
Amerikai tudományos elismerését a Kálmán-szűrő megalkotójának
-
Valódi és biztonságos alternatíva a boltokból kivont izzólámpákra
-
2022-re 4 nm-es gyártástechnológiát céloz meg az Intel
-
Skype: messze több, mint egy VoIP-telefon
-
A Szilícium-völgy válasza a globális válságra
-
A pendrájv sem csodaszer!
-
National Instruments