FőoldalCikkekCikkek megjelenítése címkék szerint: rohde & schwarz

rohde & schwarz

A R&S®RTO-sorozatú oszcilloszkópok hatékony mérési funkciói és matematikai csatornáinak képességei révén az egyes jelszakaszok függőleges eltolása másodpercenként több mint százszor korrigálható. Ennek köszönhetően az 1/100 osztásnál kisebb amplitúdójú jelek is tisztán, reprodukálhatóan jeleníthetők meg, valamint a nagyon hosszú időn át rögzített hullámalakok is stabilizálhatóak

A többkapus eszközök – például okostelefonok bemeneti fokozatainak – gyártás közbeni tesztelése egyre bonyolultabb lesz. A mérőberendezéseknek a hagyományos rádiófrekvenciás méréseken túl kezelniük is kell a készülékek új képességeit és újdonságait, például általános célú (GPIO) és kezelési be/kimeneti illesztőn, valamint MIPI RFFE illesztőn keresztül történő konfigurálását. A Rohde & Schwarz R&SZNrun nevű, automatizált mérőszoftvere és opcionális R&SZN-B15 MIPI RFFE illesztőkártyája egyedülálló megoldásokat kínál ezekhez a vizsgálatokhoz

A Fujitsu Technology Solutions GmbH. Termékminősítési Központjában méréstechnikai rendszerekkel ellenőrzik az elektronikus egységek és eszközök elektromágneses összeférhetőségét. A Rohde & Schwarz R&S®EMC32 nevű EMC mérőszoftvere minden telephelyen az infrastruktúra kulcseleme: ennek segítségével készítik el a vizsgálati terveket, illetve vezérlik és figyelik automatikusan a méréssorozatokat

Az R&S®SGT100A típusú vektor-jelgenerátor és a képernyő nélküli, R&S®FPS típusú jel- és spektrumanalizátor egyedülállóan kisméretű összeállítást alkot. E gyári környezethez és mérőrendszerekhez optimalizált elrendezés segítségével nagy áteresztőképesség érhető el rádiófrekvenciás alkatrészek és eszközök – többek között mobiltelefon-bázisállomások – tesztelése során

Az R&S RTO és R&S RTE típusú oszcilloszkópok az összetett FFT-képességeikkel társuló széles dinamikatartományuk és nagy érzékenységük következtében kitűnően használhatók EMI-hibakereséshez. Segítségükkel gyorsan és nagy pontossággal észlelhetjük, elemezhetjük az elektronikus áramkörök keltette elektromágneses zavarjeleket

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény