national instruments
– NI PXI és LabVIEW segítségével. A cél a fénydiódák jellemzőinek – többek között a nyitó- és záróirányú feszültségek, illetve áram, valamint a fényerő – többcsatornás mérésére szolgáló mérőeszközöket kiváltó, a tesztelendő eszközt pneumatikus vezérléssel automatikusan illesztő és pozicionáló rendszer kifejlesztése
A National Instruments és a Lundi Egyetem bejelentette, hogy nagy elemszámú, több bemenetű – több kimenetű („masszív" MIMO) prototípus rendszerek kidolgozására alkalmas tesztelő elrendezés kifejlesztésére indítottak együttműködést. Az összeállítás alapja egy 100 darab adó- és vevőegységet tartalmazó, nagy elemszámú MIMO-báziásllomás lesz, melynek segítségével számos mobil eszközöket szimuláló végberendezést lehet majd összekapcsolni
– az NI új távlatokat nyit a mérő-feszültségforrások világában. Az NI PXIe-4139 a hozzá hasonló, hagyományos kivitelű berendezéseknél 100-szor gyorsabb mintavételi sebességet és legalább kétszeres csatornasűrűséget biztosít
– szabályozott gyártási környezetben, az NI LabVIEW, NI TestStand és PXI használatával. A gyártósori tesztberendezések fejlesztése az amerikai Élelmiszer- és Gyógyszeripari Minisztérium besorolása szerinti II-es kategóriájú orvosi glükózmérő és inzulinadagoló rendszer részelemeinek vizsgálatához rádiókommunikációs teszttel együtt, rendkívül szoros fejlesztési határidővel igen nehéz feladat
Legyen Ön az előadó! Most Ön lehet az egyike a kiválasztott előadóknak, aki 2014 legrangosabb National Instruments rendezvényének budapesti helyszínén mutathatja be saját felhasználói megoldását
Soros programozási kapcsolatban lévő optikai szenzorvezérlővel, valamint a LabVIEW biztosítja a respirációs sebesség mérését úgy, hogy a pácienst megérintené. A rendszer fő eleme az optikai szenzor, amely Keyence gyártmányú és típusa LKG-507
A National Instruments közzétette Kitekintés az Automatizált Tesztelés Jövőjére (2014) (NI Automated Test Outlook 2014) című elemzését, amely bepillantást nyújt a vállalat legújabb mérési technikák és módszertanok terén végzett kutatásaiba. A számos iparág folyamatait elemző tanulmány segítségével a mérnökök és vezetők bármilyen tesztelő rendszert a legújabb stratégiákra és bevált eljárásokra építve optimalizálhatnak
A National Instruments NI PXIe-5646R jelű vektorjel analizátor-generátora 200 MHz-es RF sávszélességével ideális a legkorszerűbb vezeték nélküli szabványok, például az IEEE 802.11ac, a 160 MHz-es WLAN és az LTE Advanced tesztelésére. A vektorjel analizátor-generátor nyílt szoftverével fejleszthetőek többek között csatorna-szimulátor rendszerek, rádiófrekvenciás prototípusok és testreszabott, valósidejű jelfeldolgozással rendelkező spektrumelemző alkalmazások is
Újabb jelentős szakaszához érkezett a texasi székhelyű, csúcstechnológiai elektronikai eszközöket gyártó National Instruments (NI) Science Parkjának építése Debrecenben. A csaknem 4 milliárd forint összköltségű tudományos park beruházás bokrétaavatóját kedden tartották, ahol a bokrétát stílusosan egy NI robot emelte a helyére
Tudomány / Alapkutatás
CAD/CAM
Járműelektronika
Rendezvények / Kiállítások
Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény
Elektronet nyomtatott kiadás
Legfrissebb lapszámunk kapható az újságárusoknál, vagy előfizethető honlapunkon, itt!
Elektronet digitális kiadás
Lapszámaink digitálisan is elérhetőek a digitalstand.hu oldalon, hogy kedvenc lapja mindig Önnél legyen!
Legolvasottabb cikkeink
-
Bel Stewart-MagJack csatlakozók
-
Érintésvédelmi műszerek képességei
-
Egyedi és szériamozgatási és -ellenőrzési rendszerek a folyamatok automatizálásához
-
Amerikai tudományos elismerését a Kálmán-szűrő megalkotójának
-
2022-re 4 nm-es gyártástechnológiát céloz meg az Intel
-
Valódi és biztonságos alternatíva a boltokból kivont izzólámpákra
-
Skype: messze több, mint egy VoIP-telefon
-
A Szilícium-völgy válasza a globális válságra
-
A pendrájv sem csodaszer!
-
National Instruments