ÜZLET

• Ipar Napjai – ahol ember és gép találkozik
  
• [IRÁNYTŰ]
  • Dr. Sipos Mihály: Re-shoring az elektronikai iparban
• [PRESSZÓ] > [ITTHON]
  • Érdemes lesz kilátogatni a RENEXPO-ra
  • Pollack Expo 2013
  • Rohde & Schwarz Méréstechnikai Kiállítás Győrben
  • Etikus Hacker Oktató- és Vizsgaközpont az Óbudai Egyetemen
  • Young Innovators Competition
  • Informatikai cégek taroltak a XXI. Magyar Innovációs Nagydíjon

REFLEKTORBAN A KÉPI ELLENŐRZÉS AZ ELEKTRONIKAI GYÁRTÁSBAN

• Dr. Kohut József: Képi ellenőrzés az elektronikai gyártásban
• Szántó Balázs: CT-vizsgálatok az elektronikai iparban
• Sándor Tamás: Kamerás rendszerek a folyamatirányításban, gyártásellenőrzésben
• Háromdimenziós képalkotás az NI LabVIEW segítségével

KONSTRUKTŐR

• Nyerje meg a Microchip F1 fejlesztőkitet!
• [NAPRAKÉSZEN]
• A Friwo moduljai nemcsak meghajtják a LED-eket, de szabályozzák is azokat
• Tokovics Ákos: A közösségsegítette tervezés
• ChipCAD-rendezvények, oktatás és szponzorációk
• Manuel Krause: Üveg-üveg multitouchmegoldás 3,5–7,0 colos képátlóig
• Dr. Csurgai-Horváth László, Dr. Bitó János, Kertész József, Kollár Zsolt, Dr. Rieger István: Kognitív rádiózás a frekvenciasávok hatékony kihasználásában (1. rész)
• Dr. Kohut József: Peremfigyelés ma és holnap
• Kiss Zoltán: Az elektronikus papír – EPD-kijelzők

GYÁRTÓSOR

• [NAPRAKÉSZEN]
• Császár Csaba: Újabb Henkel-anyagokkal bővül a Microsolder kínálata
• Már a negyedik IPC-szabvány érhető el magyarul
• Mitch Holtzer: Alacsony hőmérsékletű SMT folyamatmegvalósítás (1. rész)
• Christian Tudor, David McKee: NYÁK-lapok forrasztási hiányosságainak kiküszöbölése előformázott forraszanyagok használatával

RENDSZERINTEGRÁTOR

• [NAPRAKÉSZEN]
• Németh Gábor: Unortodox műszerbemutató Madridban
• Jelek időtartománybeli vizsgálata nagy vertikális felbontású oszcilloszkópokon
• Fluke kézi oszcilloszkópok a Distrelec-től