Másodlagos radarrendszerek automatizált tesztelése

Az NI PXI-alapú moduláris műszereivel és LabVIEW-val összeállított, másodlagos radarrendszerek automatizált tesztelésére szolgáló rendszerünkkel ügyfelünk a korábbi, asztali műszerekkel kézileg összeállított elrendezésekhez képest 90%-os időmegtakarítást ért el, a költségeket pedig a hagyományos műszerekre épülő tesztelésekhez képest 60%-kal tudta mérsékelni